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項目 規格 檢測方法 生長方式 CZ --結晶性 單晶 擇優化學腐蝕法導電類型 P型 P/N型測試儀尺寸 M6:166mm*223mm M10:182mm*247mm 矽片自動檢測設備厚度 165 ﹢20/﹣10 µm 160 ﹢20/﹣10 µm 155 ﹢20/﹣10 µm 150 ﹢10/﹣10 µm 矽片自動檢測設備 項目: 生長方式 規格: CZ 檢測方法: --項目: 結晶性 規格: 單晶 檢測方法: 擇優化學腐蝕法項目: 導電類型 規格: P型 檢測方法: P/N型測試儀項目: 尺寸 規格: M6:166mm*223mm M10:182mm*247mm 檢測方法: 矽片自動檢測設備項目: 厚度 規格: 165 ﹢20/﹣10 µm 160 ﹢20/﹣10 µm 155 ﹢20/﹣10 µm 150 ﹢10/﹣10 µm 檢測方法: 矽片自動檢測設備電性能
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